Omfattning: 5

Tidtabel: 08.01.2019 - 10.04.2019

Undervisningsperiod (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

III - IV Spring (2018-2019, 2019-2020)

Lärandemål (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

After the course, students will understand the basic microscopy theory for electron microscopes and learns how to use following microscopy methods for material science applications:

1. Transmission electron microscopy TEM

2. Scanning electron microscopy SEM

3. Atomic force microscopy

4. Electron microscopy tomography

Innehåll (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

The course gives basic knowledge of the microscopy of materials nanoscale structures - including soft and hard materials. Lectures will concentrate on transmission electron microscopy (TEM), cryo-electron microscopy, high resolution imaging, electron diffraction and analytical microscopy by using elemental analyses (EDX, EELS). Additionally scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) and methods to prepare samples are lectures.

Metoder, arbetssätt och bedömningsgrunder (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

Teaching methods: Lectures 22h  2h/week
Assessment criteria: Exam

Arbetsmängd (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

24 + 24 (2 + 2)

Studiematerial (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

to be announced

Ersättande prestationer (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

This course replaces the course Tfy-125.4313 Microscopy of Nanomaterials.

Kursens webbplats (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

https://mycourses.aalto.fi/course/search.php?search=PHYS-E0525

Bedömningsskala (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

0-5

Anmälning (är i kraft 01.08.2018-31.07.2020): 

Registration via WebOodi.

Beskrivning

Anmälning och tillläggsinformation